本發(fā)明涉及篩分裝置(1)中的探測(cè)系統(tǒng),該篩分裝置用于篩分物料,例如集料、礦石或類似物,所述探測(cè)系統(tǒng)包括至少一個(gè)篩板(2),所述至少一個(gè)篩板(2)具有包括一個(gè)或多個(gè)篩分模塊(4)的篩分表面。該系統(tǒng)包括布置在篩分裝置(2)的至少一個(gè)篩板之處或附近的傳感器(5)。此傳感器(5)被布置成使其能夠探測(cè)離開(kāi)至少一個(gè)篩板的物體的存在。本發(fā)明還涉及用于在篩分裝置中探測(cè)物體的方法以及上述探測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用。
聲明:
“探測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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