本發(fā)明提供的是一種基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統,由半導體光電二極管探測陣列、偏置電壓電路、跨阻放大器(TIA)陣列、模擬數字(AD)轉換電路陣列、光譜重構系統、信息顯示系統和光譜響應函數系統組成,可實現結構簡單的高性能小型化光譜儀,可廣泛應用于光學檢測、生物化學分析、工業(yè)自動監(jiān)測、軍事偵察、天文研究等領域。
聲明:
“基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)