本發(fā)明是一種磁性半導(dǎo)體載流子遷移率的測(cè)定方法,主要解決磁性
半導(dǎo)體材料中由于異常霍爾效應(yīng)的存在,測(cè)定非磁性半導(dǎo)體載流子濃度和遷移率普遍使用的霍爾效應(yīng)測(cè)量遷移率方法對(duì)其不再適用。據(jù)查文獻(xiàn)資料,目前沒有可靠測(cè)量磁性半導(dǎo)體載流子遷移率的方法。本發(fā)明提出將
電化學(xué)C-V方法和范德堡方法(不需加磁場(chǎng))相結(jié)合,用電化學(xué)C-V方法測(cè)定磁性半導(dǎo)體載流子濃度,用范德堡方法測(cè)定電阻率,然后根據(jù)載流子濃度、電阻率與載流子遷移率之間的關(guān)系,確定磁性半導(dǎo)體的載流子遷移率。本方法不涉及霍爾測(cè)量,避開了異?;魻栃?yīng)的影響,具有不需要特制設(shè)備、操作方便及測(cè)量準(zhǔn)確等特點(diǎn)。
聲明:
“測(cè)定磁性半導(dǎo)體載流子遷移率的新方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)