本發(fā)明屬于熱學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種基于橢偏儀的
納米材料熔點的測量方法。本發(fā)明利用橢偏儀測量不同溫度下納米材料的光學(xué)性質(zhì),根據(jù)納米材料從固態(tài)轉(zhuǎn)變到液態(tài)時其光學(xué)性質(zhì)也會隨之改變的原理,從而測得納米材料的熔點。本發(fā)明可快速、非破壞、非接觸測量納米材料的熔點。在物理、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等眾多領(lǐng)域,具有廣泛的應(yīng)用前景。
聲明:
“基于橢偏儀的納米材料熔點的測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)