本發(fā)明公開了化學(xué)領(lǐng)域的一種分子圖像缺鍵識(shí)別技術(shù),包括以下過(guò)程:S1:生成化合物分子式圖像;S2:生成圖像原子、化學(xué)鍵標(biāo)注數(shù)據(jù)集;S3:生成環(huán)標(biāo)注集;S4:原子、化學(xué)鍵檢測(cè)識(shí)別模型和環(huán)檢測(cè)識(shí)別模型;S5:生成化合物分子圖;S6:利用rdkit軟件工具進(jìn)行分子圖的校驗(yàn)并生成smiles或者inchi字符串;本發(fā)明提供一種技術(shù)方案,在化合物圖像識(shí)別的過(guò)程中,通過(guò)引入對(duì)化合物圖像中環(huán)的檢測(cè),提高圖像中化合物缺失化學(xué)鍵的推理能力,從而提高化學(xué)分子式的識(shí)別準(zhǔn)確率。
聲明:
“分子圖像缺鍵識(shí)別技術(shù)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)