本發(fā)明公開(kāi)了一種高溫氣固兩相流磁性顆粒的取樣保護(hù)裝置及其使用方法,所述裝置包括顆粒取樣裝置、氧氣分析裝置、快速冷卻裝置、惰性氣配氣裝置;顆粒取樣探頭一方面盡可能地隔絕了高溫反應(yīng)環(huán)境中的氣氛,另一方面提供了一定量的惰性氣體以稀釋顆粒周圍可能存在的活性氣體。顆粒快速冷卻裝置得益于顆粒與顆粒間的高換熱效率,利用低溫床料實(shí)現(xiàn)對(duì)取樣顆粒的快速降溫,這進(jìn)一步降低了取樣顆粒與活性氣體的反應(yīng)的可能性。本裝置區(qū)別于傳統(tǒng)的簡(jiǎn)單取樣方法,應(yīng)用于高溫多相催化反應(yīng)中鐵磁性顆粒的觀察取樣,可實(shí)現(xiàn)取樣顆粒的表面結(jié)構(gòu)及化學(xué)性質(zhì)更接近于顆粒在反應(yīng)過(guò)程中的真實(shí)情況。
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“高溫氣固兩相流磁性顆粒的取樣保護(hù)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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