本發(fā)明提供了一種基于機器學(xué)習(xí)的蘋果糖度無損檢測方法,建立以洛倫茲擬合光譜圖像散射分布為基礎(chǔ),利用機器學(xué)習(xí)中嶺回歸方法進行預(yù)測的模型。采用雙邊濾波方法對手機拍攝得到的光譜圖像進行處理,從而得到干擾較少且特征信息更為顯著的光譜。利用光斑中心點定位算法,不斷迭代以確定光譜圖像最亮點坐標(biāo),之后進行數(shù)據(jù)擬合。擬合得到洛倫茲系數(shù),用于嶺回歸模型構(gòu)建,并利用部分蘋果數(shù)據(jù)對模型進行校正,并驗證。最終得到的模型更為穩(wěn)定和準(zhǔn)確,可用于蘋果糖度無損檢測。本發(fā)明不但能夠使用最為常用的設(shè)備—手機進行檢測,而且對蘋果的外部以及內(nèi)部都可進行無損檢測,同時能夠進行校正,提高了檢測的準(zhǔn)確性和效率。
聲明:
“基于機器學(xué)習(xí)的蘋果糖度無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)