本發(fā)明實(shí)施例公開了一種無損檢測的方法、裝置、設(shè)備和可讀存儲介質(zhì)。所述方法包括:獲取被測目標(biāo)物的每個位置點(diǎn)在至少兩個時刻下的紅外輻射量關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù);根據(jù)所述紅外輻射量關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù),確定與所述每個位置點(diǎn)對應(yīng)的輻射量時間關(guān)聯(lián)曲線;使用所述輻射量時間關(guān)聯(lián)曲線對設(shè)定時間因子進(jìn)行求導(dǎo),得到與所述每個位置點(diǎn)對應(yīng)的導(dǎo)數(shù)曲線,并分別計(jì)算與各所述導(dǎo)數(shù)曲線對應(yīng)的極值點(diǎn);根據(jù)與所述每個位置點(diǎn)對應(yīng)的所述極值點(diǎn),確定所述被測目標(biāo)物的缺陷區(qū)域,和/或所述缺陷區(qū)域的缺陷深度。本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案可以解決非金屬材料粘接交界面處空氣間隙的紅外無損檢測問題。
聲明:
“無損檢測的方法、裝置、設(shè)備可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)