本發(fā)明公開了一種工業(yè)CT無損檢測(cè)設(shè)備,包括:底座、立柱、Z軸支架、第一射線發(fā)生器和第二射線發(fā)生器,所述立柱豎向設(shè)置在底座上,所述Z軸支架可升降地設(shè)置在立柱上,所述Z軸支架中可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置有回轉(zhuǎn)支架,所述回轉(zhuǎn)支架上周向間隔設(shè)置有第一支架和第二支架,所述第一射線發(fā)生器設(shè)置在第一支架上,所述第二射線發(fā)生器設(shè)置在第二支架上。通過上述方式,本發(fā)明所述的工業(yè)CT無損檢測(cè)設(shè)備,可以進(jìn)行第一射線發(fā)生器與第二射線發(fā)生器的升降和旋轉(zhuǎn)切換,使用靈活,提升了對(duì)被測(cè)物體積的適應(yīng)性,增加了有效檢測(cè)行程,提高了檢測(cè)效率,降低了成本。
聲明:
“工業(yè)CT無損檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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