本發(fā)明涉及一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法?,F(xiàn)有技術需要破壞產品形狀檢測內部結構缺陷,非破壞性x射線檢測技術應用范圍有局限性。本發(fā)明的方法通過微波熱成像技術間接地將產品內部結構缺陷成像檢測出來。將低頻微波均勻照射在產品表面,微波穿過產品內部,受到結構不一致性影響,在背面貼附的微波吸收加熱箔紙會產生不均勻性加熱程度,通過紅外攝像頭將內部結構分布轉化為熱度分布圖像,然后由圖像處理算法將熱度分布圖像轉化為結構缺陷特征顯示在計算機顯示器上,以提供檢測人員判別是否存在結構缺陷的依據(jù)。采用本發(fā)明的檢測方法可以達到x射線成像方法的高分辨率水平,并且檢測安全性高,對檢測人員無輻射危害。
聲明:
“非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)