本說(shuō)明書涉及磁性材料技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種非環(huán)形磁芯無(wú)損檢測(cè)方法及裝置。該方法包括如下步驟:獲取待檢測(cè)磁芯的設(shè)定磁性能和設(shè)定尺寸;根據(jù)所述設(shè)定磁性能和所述設(shè)定尺寸,選擇具有第一磁性能和第一結(jié)構(gòu)的U型檢測(cè)裝置;將所述待檢測(cè)磁芯通過(guò)所述兩個(gè)柱部搭載到所述U型檢測(cè)裝置,以及調(diào)整所述待檢測(cè)磁芯和所述兩個(gè)柱部之間的相對(duì)位置,使得所述兩個(gè)柱部中每個(gè)柱部和所述待檢測(cè)磁芯之間的接觸面積大于所述待檢測(cè)磁芯的有效截面積;在第一待檢部位上纏繞第一導(dǎo)線,并將所述第一導(dǎo)線的兩端分別連接到磁性能
檢測(cè)儀的相應(yīng)端口上,以使所述磁性能檢測(cè)儀可檢測(cè)所述待檢測(cè)磁芯的磁性能。
聲明:
“非環(huán)形磁芯無(wú)損檢測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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