本發(fā)明涉及基于剪切散斑干涉的激光超聲無損檢測設(shè)備,包括:分束器件,其布置在激光器的出射端,具有兩個出射端;振鏡,其布置在分束器件的其中一個出射端;擴(kuò)束鏡,其布置在分束器件的另一個出射端;剪切裝置,其用于獲取工件表面所產(chǎn)生的漫射光;CCD相機(jī),其布置在剪切裝置的出射端;信號處理器,其分別與CCD相機(jī)、激光器和振鏡電連接。利用剪切散斑術(shù)進(jìn)行位移測量,測量的位移導(dǎo)數(shù)即應(yīng)變,以實現(xiàn)缺陷檢測,對應(yīng)力集中處較敏感,靈敏度高;激光激勵和激光干涉用同一個光源,體積重量大幅度減小;采用CCD相機(jī),視場大;剪切裝置形成的兩個干涉場基本上是共光路的,因此不易受到外界環(huán)境振動、空氣擾動等因素的干擾,克服了隔振的要求。
聲明:
“基于剪切散斑干涉的激光超聲無損檢測設(shè)備及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)