本發(fā)明公開(kāi)了一種三維模型采動(dòng)裂隙發(fā)育特征無(wú)損探測(cè)方法,屬探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法利用等離子體的導(dǎo)電性和流動(dòng)性,將等離子體充入三維模型開(kāi)采后的裂隙當(dāng)中,提高模型中裂隙巖層的導(dǎo)電性,解決了電法探測(cè)由于高阻屏蔽導(dǎo)致的裂隙發(fā)育程度探測(cè)精度不高的問(wèn)題,提高了電法探測(cè)的準(zhǔn)確性和高效性。該方法包括4個(gè)步驟:三維模型建立及導(dǎo)管鋪設(shè)、電極測(cè)線布置、等離子體充填、開(kāi)采和數(shù)據(jù)采集。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)采動(dòng)裂隙發(fā)育特征的三維探測(cè),具有探測(cè)范圍廣、準(zhǔn)確性高,有效提高探測(cè)效率等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“三維模型采動(dòng)裂隙發(fā)育特征無(wú)損探測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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