本發(fā)明屬于無損檢測技術領域,公開了一種用于中心導體法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法,檢測方法包括將導體放置在磁探檢測臺兩個夾頭之間,試件套在導體上,用支撐工件固定試件使導體位于試件的中心位置;對導體通電磁化并施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長度;依據(jù)公式計算出磁粉檢測深度。本發(fā)明的試件能夠用于中心導體法磁粉檢測內壁近表面縱向缺陷的可檢深度,該試件的檢測方法能夠用于制定合適可行的中心導體法磁粉檢測工藝,用于檢測鐵磁性材料管子等空心件的內壁近表面縱向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗證,優(yōu)化中心導體法磁粉檢測工藝參數(shù),提高該類型工件的內壁近表面縱向缺陷檢測能力。
聲明:
“用于中心導體法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)