本發(fā)明屬于電磁無損檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種基于雙層線圈的雙頻單鎖相雙模式檢測裝置及檢測方法。該種雙頻單鎖相雙模式檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單、占用體積小、對硬件處理電路要求更低,具有對復(fù)合結(jié)構(gòu)金屬和/或非金屬缺陷檢出效果好、檢測穩(wěn)定性更高的特點?;陔p層線圈的雙頻單鎖相雙模式檢測裝置,包括有:包括有基板以及雙層平面螺旋線圈的雙模式檢測傳感器;頂層平面螺旋線圈用作激勵線圈,底層平面螺旋線圈用作檢測線圈;由第一頻率信號發(fā)生單元、第二頻率信號發(fā)生單元以及加法運算器構(gòu)成的信號發(fā)生器;正交鎖相放大器以及NI采集卡,正交鎖相放大器中包括有電壓跟隨器、同相比例放大器、反相比例放大器、第一多路復(fù)用器、第二多路復(fù)用器。
聲明:
“基于雙層線圈的雙頻單鎖相雙模式檢測裝置及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)