本發(fā)明公開了一種基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法及方法,所述方法包括以下步驟:準備霉變玉米和未霉變玉米;利用地物光譜儀分別采集霉變玉米和未霉變玉米的光譜數(shù)據(jù),并進行特征分析;根據(jù)波段400nm、700nm對應的光譜反射率分別計算霉變玉米和未霉變玉米的玉米霉變指數(shù);統(tǒng)計分析霉變玉米和完好玉米的霉變指數(shù)值的變化范圍,并依據(jù)實際情況確定霉變與未霉變玉米分界值;基于所述霉變與未霉變玉米分界值,判斷待測玉米是否霉變。本發(fā)明提供的基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法,方法簡單,操作方便,可實現(xiàn)快速、無損、實時玉米霉變的檢測,為提高玉米存儲質量提供基礎技術支持。
聲明:
“基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)