本申請公開了基于應(yīng)力波波場檢測波速、材料狀態(tài)及損傷程度的方法,制作透射柵線,直流強(qiáng)光源通過透射柵線投影到試件表面形成靜態(tài)的反射條紋,全反射后,被高速相機(jī)接收;對試件施加激勵(lì),激勵(lì)產(chǎn)生的應(yīng)力波使反射條紋發(fā)生位移,高速相機(jī)采集時(shí)間序列上反射條紋的變化,對反射條紋圖像進(jìn)行相減分析,獲得變形場隨時(shí)間演化規(guī)律;采用多點(diǎn)測量求平均值的方法,計(jì)算獲得應(yīng)力波在試件材料中傳播的波速;識別出試件內(nèi)部的缺陷位置和大小尺寸信息,反演出試件內(nèi)部沿應(yīng)力傳播方向的殘余應(yīng)力分布。本發(fā)明采用完全非接觸式的二維應(yīng)力波波速測量方法、材料狀態(tài)及無損程度的方法,靈敏度高,操作簡單,實(shí)現(xiàn)了應(yīng)力波波場傳播規(guī)律的可視化。
聲明:
“基于應(yīng)力波波場檢測波速、材料狀態(tài)及損傷程度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)