本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)
芯片的測(cè)試裝置及方法,涉及手機(jī)存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域。該測(cè)試裝置包括:測(cè)試主板,所述測(cè)試主板上設(shè)置有中央處理器CPU、可編程邏輯器件FPGA、插座SOCKET夾具以及至少一個(gè)存儲(chǔ)芯片eMMC顆粒;所述eMMC顆粒放置于所述SOCKET夾具中,所述FPGA通過(guò)一個(gè)通路與一個(gè)eMMC顆粒連接。本發(fā)明的方案實(shí)現(xiàn)eMMC顆粒的批量無(wú)損檢測(cè),提升測(cè)試驗(yàn)證效率,通過(guò)FPGA將CPU及eMMC顆粒之間的DATA和CLK信號(hào)進(jìn)行傳輸與緩存,并在時(shí)序上進(jìn)行相位移動(dòng)處理,分別記錄異常狀態(tài)下建立時(shí)間和保持時(shí)間的時(shí)序邊界,獲取eMMC顆粒的數(shù)字化的時(shí)序裕量窗口信號(hào),代替了傳統(tǒng)的示波器UT測(cè)試。
聲明:
“存儲(chǔ)芯片的測(cè)試裝置及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)