本實用新型涉及半導體激光器
芯片生產加工領域,具體公開了一種測試夾具,包括載臺、蓋板、擋板、滑軌、壓塊和絕緣軟墊,待測試芯片置于蓋板上,一側與擋板接觸,實現限位,蓋板和擋板與載臺固定連接;待測試芯片的上方設有壓塊,壓塊置于滑軌內并可上下活動,壓塊的下端設有絕緣軟墊,絕緣軟墊在與待測試芯片上電極接觸的部位設有第一導電膜,蓋板與待測試芯片的下電極接觸的部位設有第二導電膜,第一導電膜和第二導電膜分別通過導線與測試儀連接。本實用新型還包括壓緊機構,通過螺栓調節(jié)壓力,第一導電膜與絕緣軟墊之間設有壓力傳感器,通過壓力傳感器的讀值調節(jié)測試壓力。本裝置不需頻繁更換測試探針,提高測試效率,對測試芯片電極無損傷。
聲明:
“測試夾具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)