本實(shí)用新型公開了一種MCU輸入IO口同步硬件失效檢測(cè)電路,包括控制
芯片、按鍵模塊、邏輯芯片和控制開關(guān);按鍵模塊連接所述控制芯片;邏輯芯片連接所述控制芯片和所述按鍵模塊;控制開關(guān)連接所述邏輯芯片;所述控制開關(guān)連接所述控制芯片的復(fù)位引腳RST,通過所述控制開關(guān)的開或閉控制所述控制芯片的復(fù)位引腳RST的電位變化。本實(shí)用新型實(shí)施例通過設(shè)置邏輯芯片,且邏輯芯片分別連接按鍵模塊和控制芯片,即邏輯芯片可以同時(shí)監(jiān)測(cè)按鍵模塊的按鍵輸入和控制芯片的賦值輸出,并結(jié)合兩者的值進(jìn)行邏輯判斷,在控制芯片檢測(cè)按鍵輸入的引腳出現(xiàn)故障時(shí),能及時(shí)控制控制芯片的復(fù)位引腳RST的電平進(jìn)行復(fù)位,進(jìn)而禁止控制芯片對(duì)外接硬件輸出,避免事故發(fā)生。
聲明:
“MCU輸入IO口同步硬件失效檢測(cè)電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)