本發(fā)明提供一種嵌入式閃存失效的篩選方法,包括提供嵌入式閃存;在片擦除操作的數(shù)據(jù)擦除模式下,通過監(jiān)控嵌入式閃存的控柵端的電壓值變化,判斷嵌入式閃存是否失效;當控柵端的電壓值大于參考值時,判斷嵌入式閃存的位線與控柵之間存在虛短路現(xiàn)象,以判定嵌入式閃存失效;當控柵端的電壓值等于參考值時,判斷嵌入式閃存的位線與控柵之間不存在虛短路現(xiàn)象,以判斷嵌入式閃存有效。本發(fā)明能夠快速檢測嵌入式閃存是否失效,判斷周期短,提高了篩選效率。
聲明:
“嵌入式閃存失效的篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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