本發(fā)明公開一種觸摸屏成像的檢測方法;解決的問題針對現(xiàn)有電容式觸摸屏的功能片主要是依靠對ITO鍍層進行圖案設(shè)計從而實現(xiàn)觸控功能,該ITO鍍層在加工制作或者客戶使用不當(dāng)過程中容易造成損壞,在以往的失效分析過程中,在不破壞產(chǎn)品的情況下,分析止步于位置判定,不能對圖形原像進行清晰呈現(xiàn),降低分析效率和數(shù)據(jù)統(tǒng)計水平的技術(shù)問題。采取方案檢測方法包括步驟1、將觸摸屏置于貼合臺面上;2、在蓋板上全覆蓋抗環(huán)境光干擾材料層;3、取出觸摸屏;4、將觸摸屏置于顯微鏡臺面上;5、環(huán)境光進入觸摸屏;6、成像。優(yōu)點加強對觸摸電容屏ITO層的原像對比,減少對顯微鏡儀器技術(shù)發(fā)展的依賴,降低檢測成本,滿足電容屏行業(yè)技術(shù)發(fā)展需求。
聲明:
“觸摸屏成像的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)