本發(fā)明公開了一種自動檢測測試通道的校驗圖形結構,所述校驗圖形結構包含有多個PAD,所述的多個PAD等距排列,各個PAD之間采用電阻結構進行連接。在測試機臺的測試程序中增加所述電阻校驗圖形的測試項目并優(yōu)先測試,進行規(guī)格管控;當測試通道發(fā)生異常時,針對電阻校驗圖形的測試相關項目連續(xù)測試失敗,則觸發(fā)測試機臺自動暫停,測試系統(tǒng)根據(jù)失效位置判定可疑通道,記錄測試結果并啟動相關的缺陷診斷程序;操作員根據(jù)診斷結果判定下一步的處理方式。本發(fā)明通過校驗圖形結構來判定測試通道是否異常。能夠客觀地表征測試通道的接觸狀態(tài),可第一時間定位異常位置,避免測試的誤判。
聲明:
“自動檢測測試通道的校驗圖形結構及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)