本發(fā)明提供一種基于數(shù)學(xué)模型的密封式繼電器貯存壽命預(yù)測方法,所述基于數(shù)學(xué)模型的密封式繼電器貯存壽命的預(yù)測方法包括以下步驟:整理各溫度下加速壽命試驗中25臺密封式繼電器所有樣本的6種相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù),通過建立相關(guān)系數(shù)分析模型得到每對觸點之間的相關(guān)系數(shù)以及每個樣本之間的相關(guān)系數(shù);建立每個參數(shù)下密封式繼電器觸點的得分系數(shù)模型;確定密封式繼電器貯存壽命預(yù)測的數(shù)學(xué)模型;將接觸電阻輸入到數(shù)學(xué)模型進(jìn)行預(yù)測,接觸電阻達(dá)到失效閾值的時間即為密封式繼電器的貯存壽命。本發(fā)明相對準(zhǔn)確地預(yù)測出密封式繼電器的貯存壽命,且穩(wěn)定性較高。
聲明:
“基于數(shù)學(xué)模型的密封式繼電器貯存壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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