本發(fā)明涉及
芯片測試電路設計領域。公開了一種提高模擬濾波電路(104)測試效率的方法。本方法可以改進現(xiàn)有對模擬濾波電路(104)串行、單個測試方法的不足,提出了一種能夠同時對多個模擬濾波電路(104)進行測試的方法。該方法通過ATE(101)控制配置寄存器(102)開啟模擬濾波電路(104);通過控制電路(103)控制測試寄存器(105)的復位;通過配置寄存器(102)對測試寄存器(105)的輸出結果通過與或選擇器(106)進行選擇。ATE(101)通過觀測輸出的結果判斷模擬濾波電路(104)是否失效。同時,通過配置寄存器(102)開啟部分模擬濾波電路(104),可以使用二分法快速定位失效的模擬濾波電路(104),進而提高測試效率。
聲明:
“提高模擬濾波電路測試效率的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)