本發(fā)明公開了一種功率器件的高溫反偏和高溫柵偏測試系統(tǒng),適用于對功率器件的高溫反偏或高溫柵偏進行可靠性測試,它由微機控制系統(tǒng)、電壓偏置系統(tǒng)、器件加熱系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)四個部分組成,根據(jù)所接入的被測器件端子的不同可以對被測器件進行高溫反偏測試或高溫柵偏測試,并在測試中對被測功率器件的泄漏電流的數(shù)據(jù)進行實時采集,可根據(jù)預(yù)先設(shè)定的失效標準,準確記錄高溫反偏和高溫柵偏的失效時間。
聲明:
“功率器件的高溫反偏和高溫柵偏測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)