權(quán)利要求書: 1.一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,包括樣品臺(tái)(1),其特征在于,所述樣品臺(tái)(1)的內(nèi)部等間距開設(shè)有六種圓形孔洞,且每種圓形孔洞皆設(shè)置為大小相同的兩個(gè),六種所述圓形孔洞包括第一插孔(2)、第二插孔(3)、第三插孔(4)、第四插孔(5)、第五插孔(6)以及第六插孔(7)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,其特征在于,所述樣品臺(tái)(1)為金屬圓柱體,且樣品臺(tái)(1)的直徑為3.5㎝、高度為1.5㎝,并且六種圓形孔洞皆軸向貫穿所述樣品臺(tái)(1)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,其特征在于,所述樣品臺(tái)(1)底部的中心位置處開設(shè)有凹槽(8),且凹槽(8)呈半球狀結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,其特征在于,所述樣品臺(tái)(1)放置于平臺(tái)(9)上,且平臺(tái)(9)頂端的中心位置處固定有定位球(10),所述定位球(10)呈圓球狀結(jié)構(gòu),且定位球(10)與凹槽(8)之間相互嵌合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,其特征在于,所述第一插孔(2)、第二插孔(3)、第三插孔(4)、第四插孔(5)、第五插孔(6)以及第六插孔(7)的直徑分別為0.5㎜、0.8㎜、1.2㎜、1.5㎜、2.0㎜以及3.0㎜。
說明書: 一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型涉及電鏡檢驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域,具體是一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置。
背景技術(shù)[0002] 隨著現(xiàn)代鋼鐵行業(yè)的迅速發(fā)展,為了研究新工藝、
新材料,不斷的優(yōu)化工藝參數(shù)及提升產(chǎn)品性能,在失效分析時(shí)采用掃描電鏡分析斷口已經(jīng)成為必不可少的環(huán)節(jié)之一,然而
在掃描電鏡分析之前首先必須截取合適長(zhǎng)度的試樣,并固定在掃描電鏡的樣品臺(tái)上。
[0003] 目前,常用的蔡司掃描電鏡樣品臺(tái)是直徑為4.6厘米的圓柱體,中間有9個(gè)直徑為4毫米的圓形孔洞,但主要用于樣品樁的固定,對(duì)于拉拔后只有1毫米左右的試樣固定并不能
很好地滿足要求,使試樣固定不穩(wěn)及易傾斜,對(duì)全面分析掃描斷口時(shí)產(chǎn)生一定的干擾和困
難。
[0004] 針對(duì)這種情況,本領(lǐng)域技術(shù)人員提供了一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置。實(shí)用新型內(nèi)容
[0005] 本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,以解決上述背景技術(shù)中提出的細(xì)小試樣固定不穩(wěn)導(dǎo)致無法滿足分析要求的問題。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:[0007] 一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,包括樣品臺(tái),所述樣品臺(tái)的內(nèi)部等間距開設(shè)有六種圓形孔洞,且每種圓形孔洞皆設(shè)置為大小相同的兩個(gè),六種所述圓形孔洞包括
第一插孔、第二插孔、第三插孔、第四插孔、第五插孔以及第六插孔。
[0008] 作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述樣品臺(tái)為金屬圓柱體,且樣品臺(tái)的直徑為3.5㎝、高度為1.5㎝,并且六種圓形孔洞皆軸向貫穿所述樣品臺(tái),能一次性放置多個(gè)不同拉
拔階段斷裂的斷口試樣。
[0009] 作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述樣品臺(tái)底部的中心位置處開設(shè)有凹槽,且凹槽呈半球狀結(jié)構(gòu),用于與定位球相互匹配、輔助限位。
[0010] 作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述樣品臺(tái)放置于平臺(tái)上,且平臺(tái)頂端的中心位置處固定有定位球,所述定位球呈圓球狀結(jié)構(gòu),且定位球與凹槽之間相互嵌合,使得樣品
臺(tái)能夠在一定范圍內(nèi)關(guān)于平臺(tái)水平或傾斜放置,從而適用于帶有弧度的斷口,確保斷口的
斷面盡量在一個(gè)水平面上。
[0011] 作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述第一插孔、第二插孔、第三插孔、第四插孔、第五插孔以及第六插孔的直徑分別為0.5㎜、0.8㎜、1.2㎜、1.5㎜、2.0㎜以及3.0㎜,能根據(jù)
不同規(guī)格的斷口試樣選擇相應(yīng)大小的孔洞并插入進(jìn)去。
[0012] 本實(shí)用新型的有益效果是:[0013] 1、通過在一個(gè)樣品臺(tái)上開設(shè)六種規(guī)格的圓形孔洞,適用于多種規(guī)格的斷口試樣,能一次性放置多個(gè)不同拉拔階段斷裂的斷口試樣,不用來回對(duì)樣品室進(jìn)行放氣、抽真空,提
高了檢驗(yàn)效率;
[0014] 2、對(duì)于帶有弧度的斷口試樣,通過定位球與凹槽之間的旋轉(zhuǎn)嵌合關(guān)系,使得樣品臺(tái)能夠在一定范圍內(nèi)關(guān)于平臺(tái)調(diào)整傾斜角度,從而確保斷口的斷面盡量在一個(gè)水平面上,
進(jìn)而有效提高分析準(zhǔn)確性和工作效率。
附圖說明[0015] 下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。[0016] 圖1為一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置的立體示意圖;[0017] 圖2為圖1中樣品臺(tái)的仰視立體示意圖;[0018] 圖3為圖1中平臺(tái)的立體示意圖。[0019] 圖中:1、樣品臺(tái);2、第一插孔;3、第二插孔;4、第三插孔;5、第四插孔;6、第五插孔;7、第六插孔;8、凹槽;9、平臺(tái);10、定位球。
具體實(shí)施方式[0020] 下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,請(qǐng)參閱圖1~3,本實(shí)用新型實(shí)施例如下:
[0021] 一種用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置,在圖1中:包括樣品臺(tái)1,樣品臺(tái)1的內(nèi)部等間距開設(shè)有六種圓形孔洞,且每種圓形孔洞皆設(shè)置為大小相同的兩個(gè),六種圓形孔洞包
括第一插孔2、第二插孔3、第三插孔4、第四插孔5、第五插孔6以及第六插孔7。
[0022] 在圖1中:樣品臺(tái)1為金屬圓柱體,且樣品臺(tái)1的直徑為3.5㎝、高度為1.5㎝,并且六種圓形孔洞皆軸向貫穿樣品臺(tái)1,能一次性放置多個(gè)不同拉拔階段斷裂的斷口試樣;第一插
孔2、第二插孔3、第三插孔4、第四插孔5、第五插孔6以及第六插孔7的直徑分別為0.5㎜、0.8
㎜、1.2㎜、1.5㎜、2.0㎜以及3.0㎜,能根據(jù)不同規(guī)格的斷口試樣選擇相應(yīng)大小的孔洞并插
入進(jìn)去。
[0023] 在圖2和圖3中:樣品臺(tái)1底部的中心位置處開設(shè)有凹槽8,且凹槽8呈半球狀結(jié)構(gòu),用于與定位球10相互匹配、輔助限位;樣品臺(tái)1放置于平臺(tái)9上,且平臺(tái)9頂端的中心位置處
固定有定位球10,定位球10呈圓球狀結(jié)構(gòu),且定位球10與凹槽8之間相互嵌合,使得樣品臺(tái)1
能夠在一定范圍內(nèi)關(guān)于平臺(tái)9水平或傾斜放置,從而適用于帶有弧度的斷口,確保斷口的斷
面盡量在一個(gè)水平面上。
[0024] 本實(shí)用新型的工作原理是:利用試驗(yàn)室現(xiàn)有的∑IGMA|HD蔡司掃描電鏡的樣品臺(tái)1進(jìn)行改造,通過在一個(gè)樣品臺(tái)1上開設(shè)六種規(guī)格的圓形孔洞,分別為兩個(gè)直徑為0.5㎜、兩個(gè)
直徑為0.8㎜、兩個(gè)直徑為1.2㎜、兩個(gè)直徑為1.5㎜、兩個(gè)直徑為2.0㎜以及兩個(gè)直徑為3.0
㎜的圓形孔洞,針對(duì)不同規(guī)格的斷口試樣插入不同大小的孔洞內(nèi),并用碳導(dǎo)電膠帶交叉固
定,再將樣品臺(tái)1用碳導(dǎo)電膠帶粘在樣品實(shí)的平臺(tái)9上,掃描時(shí)斷口試樣不會(huì)來回晃動(dòng)、傾斜
干擾分析,從而適用于多種規(guī)格的斷口試樣,能一次性放置多個(gè)不同拉拔階段斷裂的斷口
試樣,不用來回對(duì)樣品室進(jìn)行放氣、抽真空,提高了檢驗(yàn)效率;
[0025] 此外,對(duì)于帶有弧度的斷口試樣,通過定位球10與凹槽8之間的旋轉(zhuǎn)嵌合關(guān)系,可使得樣品臺(tái)1能夠在一定范圍內(nèi)關(guān)于平臺(tái)9調(diào)整傾斜角度,從而確保斷口的斷面盡量在一個(gè)
水平面上,有利于得到一張清晰的掃描電鏡斷口照片,進(jìn)而有效提高分析準(zhǔn)確性和工作效
率。
[0026] 以上所述的,僅為本實(shí)用新型較佳的具體實(shí)施方式,但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi),根據(jù)本實(shí)
用新型的技術(shù)方案及其實(shí)用新型構(gòu)思加以等同替換或改變,都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)
范圍之內(nèi)。
聲明:
“用于掃描電鏡細(xì)小試樣的固定裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)