權(quán)利要求書(shū)： 1.一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，包括基板(1)和測(cè)試箱(2)，其特征在于：所述測(cè)試箱(2)位于基板(1)上表面，所述測(cè)試箱(2)內(nèi)部設(shè)置有冷測(cè)試倉(cāng)(3)和熱測(cè)試倉(cāng)(4)，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)與熱測(cè)試倉(cāng)(4)之間設(shè)置有真空層(22)，所述真空層(22)內(nèi)部設(shè)置有保溫板(23)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)內(nèi)表面安裝有制冷機(jī)構(gòu)(5)，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)內(nèi)部設(shè)置有隔冷板(6)，所述制冷機(jī)構(gòu)(5)輸出端安裝有導(dǎo)冷管(7)，所述導(dǎo)冷管(7)貫穿隔冷板(6)，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)底面安裝有第一測(cè)試臺(tái)(8)，所述第一測(cè)試臺(tái)(8)位于導(dǎo)冷管(7)下方。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)一側(cè)面設(shè)置有若干散冷槽(9)，所述冷測(cè)試倉(cāng)(3)前端面安裝有第一旋轉(zhuǎn)門(mén)(10)，所述第一旋轉(zhuǎn)門(mén)(10)前端面設(shè)置有觀測(cè)窗(11)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述熱測(cè)試倉(cāng)(4)內(nèi)表面安裝有制熱機(jī)構(gòu)(12)，所述熱測(cè)試倉(cāng)(4)內(nèi)部設(shè)置有隔熱板(13)，所述制熱機(jī)構(gòu)(12)輸出端安裝有導(dǎo)熱管(14)，所述熱測(cè)試倉(cāng)(4)底面安裝有第二測(cè)試臺(tái)(15)，所述第二測(cè)試臺(tái)(15)位于導(dǎo)熱管(14)下方，所述測(cè)試箱(2)前端面安裝有控制器(19)，所述制熱機(jī)構(gòu)(12)和制冷機(jī)構(gòu)(5)均與控制器(19)電性連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述熱測(cè)試倉(cāng)(4)一側(cè)面設(shè)置有散熱槽(16)，所述散熱槽(16)內(nèi)部安裝有冷扇(17)，所述熱測(cè)試倉(cāng)(4)前端面安裝有第二旋轉(zhuǎn)門(mén)(18)，所述第二旋轉(zhuǎn)門(mén)(18)前端面也設(shè)置有觀測(cè)窗(11)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，其特征在于，所述基板(1)底面設(shè)置有若干底柱(20)，所述底柱(20)底面安裝有鎖止萬(wàn)向輪(21)。

說(shuō)明書(shū)： 一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型屬于電子元件技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)。

背景技術(shù)[0002] 電子元件，是電子電路中的基本元素，通常是個(gè)別封裝，并具有兩個(gè)或以上的引線(xiàn)或金屬接點(diǎn)。電子元件須相互連接以構(gòu)成一個(gè)具有特定功能的電子電路，例如：放大器、無(wú)

線(xiàn)電接收機(jī)、振蕩器等，連接電子元件常見(jiàn)的方式之一是焊接到印刷電路板上。電子元件也

許是單獨(dú)的封裝(電阻器、電容器、電感器、晶體管、二極管等)，或是各種不同復(fù)雜度的群

組。

[0003] 電子元件在出廠前會(huì)進(jìn)行冷熱沖擊測(cè)試，現(xiàn)有的熱冷沖擊試驗(yàn)機(jī)制冷機(jī)構(gòu)和制熱機(jī)構(gòu)溫度不容易控制，易導(dǎo)致溫度錯(cuò)亂，影響測(cè)試效果；因此，提出一種用于測(cè)試電子元件

的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)。

實(shí)用新型內(nèi)容

[0004] 本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，解決現(xiàn)有的熱冷沖擊試驗(yàn)機(jī)制冷機(jī)構(gòu)和制熱機(jī)構(gòu)溫度不容易控制，易導(dǎo)致溫度錯(cuò)亂，影響測(cè)試效果

的問(wèn)題。

[0005] 為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：[0006] 本實(shí)用新型為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，包括基板和測(cè)試箱，所述測(cè)試箱位于基板上表面，所述測(cè)試箱內(nèi)部設(shè)置有冷測(cè)試倉(cāng)和熱測(cè)試倉(cāng)，所述冷測(cè)試倉(cāng)與

熱測(cè)試倉(cāng)之間設(shè)置有真空層，所述真空層內(nèi)部設(shè)置有保溫板，電子元件在冷測(cè)試倉(cāng)內(nèi)和熱

測(cè)試倉(cāng)內(nèi)分別進(jìn)行測(cè)試，真空層和保溫板將冷測(cè)試倉(cāng)和熱測(cè)試倉(cāng)之間的溫度隔絕，防止彼

此受到影響，防止溫度錯(cuò)亂，提升測(cè)試的準(zhǔn)確性。

[0007] 進(jìn)一步地，所述冷測(cè)試倉(cāng)內(nèi)表面安裝有制冷機(jī)構(gòu)，所述冷測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部設(shè)置有隔冷板，所述制冷機(jī)構(gòu)輸出端安裝有導(dǎo)冷管，所述導(dǎo)冷管貫穿隔冷板，所述冷測(cè)試倉(cāng)底面安裝有

第一測(cè)試臺(tái)，所述第一測(cè)試臺(tái)位于導(dǎo)冷管下方，將電子元件放置在第一測(cè)試臺(tái)上，制冷機(jī)構(gòu)

將冷氣通過(guò)導(dǎo)冷管傳導(dǎo)至第一測(cè)試臺(tái)，對(duì)電子元件進(jìn)行冷測(cè)試，隔冷板防止冷測(cè)試倉(cāng)過(guò)冷，

提升安全性。

[0008] 進(jìn)一步地，所述冷測(cè)試倉(cāng)一側(cè)面設(shè)置有若干散冷槽，所述冷測(cè)試倉(cāng)前端面安裝有第一旋轉(zhuǎn)門(mén)，所述第一旋轉(zhuǎn)門(mén)前端面設(shè)置有觀測(cè)窗，通過(guò)第一旋轉(zhuǎn)門(mén)便于開(kāi)合密封冷測(cè)試

倉(cāng)，散冷槽可以快速將冷測(cè)試倉(cāng)內(nèi)的冷氣散出，觀測(cè)窗便于用戶(hù)觀測(cè)。

[0009] 進(jìn)一步地，所述熱測(cè)試倉(cāng)內(nèi)表面安裝有制熱機(jī)構(gòu)，所述熱測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部設(shè)置有隔熱板，所述制熱機(jī)構(gòu)輸出端安裝有導(dǎo)熱管，所述熱測(cè)試倉(cāng)底面安裝有第二測(cè)試臺(tái)，所述第二測(cè)

試臺(tái)位于導(dǎo)熱管下方，所述測(cè)試箱前端面安裝有控制器，所述制熱機(jī)構(gòu)和制冷機(jī)構(gòu)均與控

制器電性連接，電子元件放置在第二測(cè)試臺(tái)上，制熱機(jī)構(gòu)將熱量通過(guò)導(dǎo)熱管傳導(dǎo)至第二測(cè)

試臺(tái)，對(duì)電子元件進(jìn)行熱測(cè)試，隔熱板防止熱測(cè)試倉(cāng)過(guò)熱，提升安全性。

[0010] 進(jìn)一步地，所述熱測(cè)試倉(cāng)一側(cè)面設(shè)置有散熱槽，所述散熱槽內(nèi)部安裝有冷扇，所述熱測(cè)試倉(cāng)前端面安裝有第二旋轉(zhuǎn)門(mén)，所述第二旋轉(zhuǎn)門(mén)前端面也設(shè)置有觀測(cè)窗，散熱槽和冷

扇，可以將熱測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部的熱量排出，防止過(guò)熱，通過(guò)設(shè)置控制器便于對(duì)溫度進(jìn)行調(diào)控。

[0011] 進(jìn)一步地，所述基板底面設(shè)置有若干底柱，所述底柱底面安裝有鎖止萬(wàn)向輪，鎖止萬(wàn)向輪方便用戶(hù)移動(dòng)該裝置。

[0012] 本實(shí)用新型具有以下有益效果：[0013] 本實(shí)用新型通過(guò)設(shè)置真空層和保溫板，將冷測(cè)試倉(cāng)和熱測(cè)試倉(cāng)之間的溫度隔絕，防止彼此受到影響，防止溫度錯(cuò)亂，提升測(cè)試的準(zhǔn)確性；通過(guò)設(shè)置隔冷板和散冷槽，可以快

速將冷測(cè)試倉(cāng)內(nèi)的冷氣散出，防止冷測(cè)試倉(cāng)過(guò)冷，提升安全性；通過(guò)設(shè)置隔熱板、散熱槽和

冷扇，可以將熱測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部的熱量排出，防止過(guò)熱；通過(guò)設(shè)置控制器，便于對(duì)溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)；

通過(guò)設(shè)置做止萬(wàn)向輪，讓用戶(hù)移動(dòng)該裝置更方便。

[0014] 當(dāng)然，實(shí)施本實(shí)用新型的任一產(chǎn)品并不一定需要同時(shí)達(dá)到以上所述的所有優(yōu)點(diǎn)。附圖說(shuō)明[0015] 為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，

對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得

其他的附圖。

[0016] 圖1為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的等軸側(cè)立體結(jié)構(gòu)示意圖；[0017] 圖2為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的右側(cè)立體結(jié)構(gòu)示意圖；[0018] 圖3為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的上視結(jié)構(gòu)示意圖；[0019] 圖4為圖3中A?A剖面結(jié)構(gòu)示意圖；[0020] 圖5為圖3中B?B剖面結(jié)構(gòu)示意圖；[0021] 圖6為圖3中C?C剖面結(jié)構(gòu)示意圖。[0022] 附圖中，各標(biāo)號(hào)所代表的部件列表如下：1、基板；2、測(cè)試箱；3、冷測(cè)試倉(cāng)；4、熱測(cè)試倉(cāng)；5、制冷機(jī)構(gòu)；6、隔冷板；7、導(dǎo)冷管；8、第一測(cè)試臺(tái)；9、散冷槽；10、第一旋轉(zhuǎn)門(mén)；11、觀測(cè)

窗；12、制熱機(jī)構(gòu)；13、隔熱板；14、導(dǎo)熱管；15、第二測(cè)試臺(tái)；16、散熱槽；17、冷扇；18、第二旋

轉(zhuǎn)門(mén)；19、控制器；20、底柱；21、鎖止萬(wàn)向輪；22、真空層；23、保溫板。

具體實(shí)施方式[0023] 下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的

實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下

所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

[0024] 在本實(shí)用新型的描述中，需要理解的是，術(shù)語(yǔ)“上”、“中”、“外”、“內(nèi)”等指示方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本實(shí)用新型和簡(jiǎn)化描述，而不是指示或暗示所指的組件或元

件必須具有特定的方位，以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。

[0025] 請(qǐng)參閱圖1?6所示，本實(shí)用新型為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，包括基板1和測(cè)試箱2，測(cè)試箱2位于基板1上表面，測(cè)試箱2內(nèi)部設(shè)置有冷測(cè)試倉(cāng)3和熱測(cè)試倉(cāng)4，

冷測(cè)試倉(cāng)3與熱測(cè)試倉(cāng)4之間設(shè)置有真空層22，真空層22內(nèi)部設(shè)置有保溫板23，電子元件在

冷測(cè)試倉(cāng)3內(nèi)和熱測(cè)試倉(cāng)4內(nèi)分別進(jìn)行測(cè)試，真空層22和保溫板23將冷測(cè)試倉(cāng)3和熱測(cè)試倉(cāng)4

之間的溫度隔絕，防止彼此受到影響，防止溫度錯(cuò)亂，提升測(cè)試的準(zhǔn)確性。

[0026] 優(yōu)選地，冷測(cè)試倉(cāng)3內(nèi)表面安裝有制冷機(jī)構(gòu)5，冷測(cè)試倉(cāng)3內(nèi)部設(shè)置有隔冷板6，制冷機(jī)構(gòu)5輸出端安裝有導(dǎo)冷管7，導(dǎo)冷管7貫穿隔冷板6，冷測(cè)試倉(cāng)3底面安裝有第一測(cè)試臺(tái)8，第

一測(cè)試臺(tái)8位于導(dǎo)冷管7下方，將電子元件放置在第一測(cè)試臺(tái)8上，制冷機(jī)構(gòu)5將冷氣通過(guò)導(dǎo)

冷管7傳導(dǎo)至第一測(cè)試臺(tái)8，對(duì)電子元件進(jìn)行冷測(cè)試，隔冷板6防止冷測(cè)試倉(cāng)3過(guò)冷，提升安全

性。

[0027] 優(yōu)選地，冷測(cè)試倉(cāng)3一側(cè)面設(shè)置有若干散冷槽9，冷測(cè)試倉(cāng)3前端面安裝有第一旋轉(zhuǎn)門(mén)10，第一旋轉(zhuǎn)門(mén)10前端面設(shè)置有觀測(cè)窗11，通過(guò)第一旋轉(zhuǎn)門(mén)10便于開(kāi)合密封冷測(cè)試倉(cāng)3，

散冷槽9可以快速將冷測(cè)試倉(cāng)3內(nèi)的冷氣散出，觀測(cè)窗11便于用戶(hù)觀測(cè)。

[0028] 優(yōu)選地，熱測(cè)試倉(cāng)4內(nèi)表面安裝有制熱機(jī)構(gòu)12，熱測(cè)試倉(cāng)4內(nèi)部設(shè)置有隔熱板13，制熱機(jī)構(gòu)12輸出端安裝有導(dǎo)熱管14，熱測(cè)試倉(cāng)4底面安裝有第二測(cè)試臺(tái)15，第二測(cè)試臺(tái)15位于

導(dǎo)熱管14下方，測(cè)試箱2前端面安裝有控制器19，制熱機(jī)構(gòu)12和制冷機(jī)構(gòu)5均與控制器19電

性連接，電子元件放置在第二測(cè)試臺(tái)15上，制熱機(jī)構(gòu)12將熱量通過(guò)導(dǎo)熱管14傳導(dǎo)至第二測(cè)

試臺(tái)15，對(duì)電子元件進(jìn)行熱測(cè)試，隔熱板13防止熱測(cè)試倉(cāng)4過(guò)熱，提升安全性。

[0029] 優(yōu)選地，熱測(cè)試倉(cāng)4一側(cè)面設(shè)置有散熱槽16，散熱槽16內(nèi)部安裝有冷扇17，熱測(cè)試倉(cāng)4前端面安裝有第二旋轉(zhuǎn)門(mén)18，第二旋轉(zhuǎn)門(mén)18前端面也設(shè)置有觀測(cè)窗11，散熱槽16和冷扇

17，可以將熱測(cè)試倉(cāng)4內(nèi)部的熱量排出，防止過(guò)熱，通過(guò)設(shè)置控制器19便于對(duì)溫度進(jìn)行調(diào)控。

[0030] 優(yōu)選地，基板1底面設(shè)置有若干底柱20，底柱20底面安裝有鎖止萬(wàn)向輪21，鎖止萬(wàn)向輪21方便用戶(hù)移動(dòng)該裝置。

[0031] 如圖1?6所示本實(shí)施例為一種用于測(cè)試電子元件的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的使用方法：打開(kāi)第一旋轉(zhuǎn)門(mén)10，將電子元件放置在第一測(cè)試臺(tái)8上，關(guān)閉第一旋轉(zhuǎn)門(mén)10，制冷機(jī)構(gòu)5將冷

氣通過(guò)導(dǎo)冷管7傳導(dǎo)至第一測(cè)試臺(tái)8，對(duì)電子元件進(jìn)行冷測(cè)試，觀測(cè)窗11便于用戶(hù)觀測(cè)；打開(kāi)

第二旋轉(zhuǎn)門(mén)18，電子元件放置在第二測(cè)試臺(tái)15上，關(guān)閉第二旋轉(zhuǎn)門(mén)18，制熱機(jī)構(gòu)12將熱量通

過(guò)導(dǎo)熱管14傳導(dǎo)至第二測(cè)試臺(tái)15，對(duì)電子元件進(jìn)行熱測(cè)試；調(diào)節(jié)控制器19可以對(duì)各個(gè)機(jī)構(gòu)

的溫度進(jìn)行調(diào)控。

[0032] 在本說(shuō)明書(shū)的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本實(shí)用新型的至少一個(gè)

實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或

示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例

中以合適的方式結(jié)合。

[0033] 以上公開(kāi)的本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例只是用于幫助闡述本實(shí)用新型。優(yōu)選實(shí)施例并沒(méi)有詳盡敘述所有的細(xì)節(jié)，也不限制該實(shí)用新型僅為所述的具體實(shí)施方式。顯然，根據(jù)本說(shuō)

明書(shū)的內(nèi)容，可作很多的修改和變化。本說(shuō)明書(shū)選取并具體描述這些實(shí)施例，是為了更好地

解釋本實(shí)用新型的原理和實(shí)際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地理解和利用本

實(shí)用新型。本實(shí)用新型僅受權(quán)利要求書(shū)及其全部范圍和等效物的限制。