本申請(qǐng)公開(kāi)了一種磁盤性能檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),應(yīng)用于分布式存儲(chǔ)系統(tǒng)中,接收磁盤性能檢測(cè)程序;獲取分布式存儲(chǔ)系統(tǒng)的磁盤列表;對(duì)磁盤列表對(duì)應(yīng)的每一個(gè)磁盤均運(yùn)行磁盤性能檢測(cè)程序,得到每一個(gè)磁盤的性能檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)公開(kāi)的一種磁盤性能檢測(cè)方法中,得到了每一個(gè)磁盤的性能檢測(cè)結(jié)果,從而使得測(cè)試人員可以根據(jù)每一個(gè)磁盤的性能檢測(cè)結(jié)果確定每一個(gè)磁盤的性能,便于測(cè)試人員對(duì)性能不達(dá)標(biāo)的磁盤進(jìn)行性能維護(hù),進(jìn)而保證分布式存儲(chǔ)系統(tǒng)的整體性能,與現(xiàn)有技術(shù)相比,保證了分布式存儲(chǔ)系統(tǒng)的性能。本申請(qǐng)公開(kāi)的一種磁盤性能檢測(cè)系統(tǒng)、設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)也解決了相應(yīng)技術(shù)問(wèn)題。
聲明:
“一種磁盤性能檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)