本發(fā)明公開(kāi)一種光學(xué)性能檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置,光學(xué)性能檢測(cè)方法應(yīng)用于檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)性能檢測(cè)裝置,光學(xué)性能檢測(cè)裝置沿光線傳輸方向依次包括激光光源與采集單元,光學(xué)性能檢測(cè)裝置還包括轉(zhuǎn)動(dòng)件,激光光源轉(zhuǎn)動(dòng)件連接,光學(xué)性能檢測(cè)方法包括:將轉(zhuǎn)動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)至第一角度,確定激光光源發(fā)出的入射光線在采集單元上的第一光斑的中心與采集單元的中心的第一距離;根據(jù)第一角度與第一距離,確定光學(xué)系統(tǒng)的第一焦距;根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)的第一焦距,確定光學(xué)系統(tǒng)在第一角度的畸變。本發(fā)明提供一種光學(xué)性能檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置,解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)虛擬顯示設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)難度大,檢測(cè)成本高的問(wèn)題。
聲明:
“光學(xué)性能檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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