本發(fā)明涉及門磁傳感器性能檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種門磁傳感器運(yùn)行性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法,該門磁傳感器運(yùn)行性能檢測(cè)裝置包括:磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置,用于產(chǎn)生一磁場(chǎng);控制器,用于控制所述磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置將所產(chǎn)生的磁場(chǎng)施加至所述門磁傳感器;以及記錄儀,用于記錄所述磁場(chǎng)施加至所述門磁傳感器的次數(shù)以及所述門磁傳感器產(chǎn)生的門磁信號(hào)的次數(shù)。本發(fā)明提供的技術(shù)方案可有效提高門磁傳感器的運(yùn)行性能檢測(cè)效率,實(shí)現(xiàn)門磁傳感器的壽命檢測(cè)并滿足工廠大批量檢測(cè)的需求。
聲明:
“一種門磁傳感器運(yùn)行性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)