本發(fā)明公開了一種晶體管加工用性能檢測裝置,振動盤將晶體管排列整齊后送入進料槽的進料通道內(nèi),晶體管在進料槽的進料通道內(nèi)進料,通過第一限位機構(gòu)和第二限位機構(gòu),保證所述進料通道的檢測段內(nèi)晶體管進料穩(wěn)定,檢測機構(gòu)對檢測段內(nèi)的晶體管進行檢測。本發(fā)明提出的晶體管加工用性能檢測裝置,結(jié)構(gòu)設(shè)計合理,通過在進料通道一側(cè)設(shè)置檢測機構(gòu),能夠連續(xù)對晶體管進行精確檢測,并且第一限位機構(gòu)和第二限位機構(gòu)對晶體管進料速度進行控制,保證晶體管進料穩(wěn)定,使得每次僅有一個晶體管位于檢測工位,從而大大提高檢測效率和檢測精度。
聲明:
“一種晶體管加工用性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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