本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體激光器領(lǐng)域,特別涉及一種半導(dǎo)體激光管性能檢測裝置,包括MCU模塊,MCU模塊依次通過電壓轉(zhuǎn)換模塊、測試電壓模塊與測試模塊連接,MCU模塊還分別通過譯碼器模塊、測試電流模塊、多路選擇模塊與測試模塊連接;測試模塊包括若干并聯(lián)的待測模組,待測模組包括一P型MOS管和待測半導(dǎo)體激光管,P型MOS管的源極連接半導(dǎo)體激光管正極,其漏極接收測試電壓模塊提供的測試電壓,半導(dǎo)體激光管的負(fù)極接收測試電流模塊提供的測試電流。本新型通過MCU對整體裝置進(jìn)行控制可同時對多個激光二極管進(jìn)行性能檢測,減少了多檢測時需要的數(shù)據(jù)傳輸通路,簡化了電路結(jié)構(gòu),可對測試電壓和電流進(jìn)行調(diào)節(jié),保證了整個裝置的低功耗運(yùn)行。
聲明:
“一種半導(dǎo)體激光管性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)