本申請(qǐng)公開(kāi)了一種超聲反射性能檢測(cè)系統(tǒng)和方法,用于測(cè)試電子設(shè)備的超聲性能,該超聲反射性能檢測(cè)系統(tǒng)包括:密閉箱體;運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌,設(shè)置于所述密閉箱體中;反射部件,滑動(dòng)連接于所述運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌;其中,所述電子設(shè)備和所述反射部件分別位于所述運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的兩端,在所述電子設(shè)備與所述反射部件相互靠近的過(guò)程中,所述電子設(shè)備發(fā)射的超聲波信號(hào)經(jīng)所述反射部件的反射,被所述電子設(shè)備接收。利用本申請(qǐng)?zhí)峁┑臋z測(cè)系統(tǒng)能夠提高超聲檢測(cè)精度。
聲明:
“超聲反射性能檢測(cè)系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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