本發(fā)明提供了本發(fā)明提出一種用于檢測射頻設(shè)備性能的測試平臺及射頻檢測電路,包括:劃分模塊,用于獲取目標(biāo)射頻設(shè)備的設(shè)備屬性,并向設(shè)備屬性匹配標(biāo)準(zhǔn)出廠狀態(tài)下的設(shè)備構(gòu)造,確定劃分線對目標(biāo)射頻設(shè)備進(jìn)行劃分;測試方式分配模塊,用于根據(jù)劃分類結(jié)果,確定射頻塊,并基于射頻塊的塊屬性,分配對應(yīng)的性能測試方式;性能測試模塊,用于基于性能測試方式,完成對目標(biāo)射頻設(shè)備的性能檢測。提高測試效率,保證測試的可靠性。
聲明:
“一種用于檢測射頻設(shè)備性能的測試平臺及射頻檢測電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)