本發(fā)明公開一種多SITE LCD驅(qū)動(dòng)
芯片檢測方法,所述上位機(jī)發(fā)送檢測指令,載入LCD驅(qū)動(dòng)命令信息,驅(qū)動(dòng)LCD驅(qū)動(dòng)芯片管腳輸出波形;所述主控板解析上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩畔?,分批次對多路LCD驅(qū)動(dòng)芯引腳進(jìn)行模擬量信號(hào)采集,模數(shù)轉(zhuǎn)換后將數(shù)據(jù)存入內(nèi)存單元;然后將數(shù)據(jù)從內(nèi)存單元讀出,通過算法判定,核對每路波形BIAS與上位機(jī)設(shè)定值的一致性,將結(jié)果上傳至上位機(jī),判定芯片是否檢測成功。本發(fā)明還公開一種多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測裝置,本發(fā)明可同時(shí)控制多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行全性能檢測,使用方便,效率高。
聲明:
“一種多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)