本申請公開了一種測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括:N個測試裝置以及探針部;所述探針部包括N組測試探針;每組測試探針包括第一極測試探針和第二極測試探針;每組測試探針用于電連接待測驅(qū)動板的不同負(fù)載輸出端;各所述測試裝置包括第一輸入端以及第二輸入端;其中,第j測試裝置還包括第一輸出端以及第二輸出端;第N測試裝置的第一輸入端與第N組測試探針的第一極測試探針電連接。本申請實施例提供的一種測試系統(tǒng),該測試系統(tǒng)包括多個測試裝置,該測試裝置能夠?qū)︱?qū)動板上設(shè)置的多個負(fù)載輸出端連接的內(nèi)部電路進(jìn)行全面性能檢測,有效的解決了因為漏檢電路而未檢測出驅(qū)動板性能品質(zhì)不良的問題。
聲明:
“一種測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)