本申請(qǐng)公開(kāi)了一種BMS采集模塊性能測(cè)試方法和裝置,以測(cè)試BMS采集模塊的電壓采集精度和通訊輸入輸出性能。該裝置包括模擬電池模塊和主控模塊;模擬電池模塊由模擬電池串聯(lián)而成;每個(gè)模擬電池的輸出端口同時(shí)連接到一個(gè)參考BMS采集模塊(簡(jiǎn)稱(chēng)參考模塊)和一個(gè)待測(cè)BMS采集模塊(簡(jiǎn)稱(chēng)待測(cè)模塊)上;主控模塊、待測(cè)模塊、參考模塊依次串接構(gòu)成菊花鏈通訊環(huán)路。主控模塊向待測(cè)模塊和參考模塊發(fā)送電壓采集指令;如果接收到兩模塊的反饋,判定待測(cè)模塊通訊輸入、輸出正常,將兩模塊反饋的電壓數(shù)據(jù)作對(duì)比以判斷待測(cè)模塊電壓采集精度;如果只接收到待測(cè)模塊的反饋,判定待測(cè)模塊通訊輸出異常;如果未接收到任何反饋,判定待測(cè)模塊通訊輸入異常。
聲明:
“一種BMS采集模塊性能測(cè)試方法和裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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