本發(fā)明公開(kāi)了一種電子元件移動(dòng)測(cè)試裝置及其方法,包括機(jī)架,所述機(jī)架內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)安裝有兩根輸送軸,兩根所述輸送軸外側(cè)連接有輸送帶;所述輸送帶表面均勻設(shè)置有放置臺(tái),所述放置臺(tái)內(nèi)部設(shè)置有固定板,所述固定板底面連接有彈性組件,所述彈性組件的上端連接有升降板,所述彈性組件底端連接有固定楔塊;所述機(jī)架表面均勻設(shè)置有多個(gè)承載立板,所述承載立板外側(cè)連接有頂料電缸、連接電缸和推料電缸,所述頂料電缸的輸出端連接有活動(dòng)楔塊,所述連接電缸的輸出端連接有連接插頭。有益效果在于:能夠依次對(duì)電子元件進(jìn)行多項(xiàng)性能的自動(dòng)測(cè)試,測(cè)試效率高;測(cè)試過(guò)程中無(wú)需多次取放電子元件,電子元件位置固定不變,能夠保證電子元件的測(cè)試準(zhǔn)確性。
聲明:
“一種電子元件移動(dòng)測(cè)試裝置及其方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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