公開了用于樣品的分析檢查的測試元件分析系統(tǒng)(110)以及用于樣品的分析檢查的方法。測試元件分析系統(tǒng)(110)包括測量裝置(112),測量裝置(112)包括用于至少部分地接收至少一個(gè)測試元件(116)的測試元件接受器(114),其中,測試元件接受器(114)包括至少一個(gè)第一部分(118)和至少一個(gè)第二部分(120),其中,第一部分(118)包括用于置放測試元件(116)的至少一個(gè)支撐表面(144),其中,第二部分(120)包括至少一個(gè)光學(xué)檢測器(128),所述光學(xué)檢測器用于檢測在測試元件(116)中包含的至少一種測試化學(xué)物質(zhì)(154)的至少一種檢測反應(yīng),其中,第二部分(120)可相對于第一部分(118)移動(dòng),其中,測試元件接受器(114)配置成將第二部分(120)定位在至少一個(gè)位置中,使得測試元件(116)可以插入到測試元件接受器(114)中,且隨后將第二部分(120)定位在關(guān)閉位置(182)中,使得第二部分(120)的至少一個(gè)鄰接表面(184)靜止在測試元件(116)上。
聲明:
“用于樣品的分析檢查的測試元件分析系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)