本發(fā)明公開了一種X-射線熒光光譜法測定熔敷金屬化學(xué)成分的方法,包括以下步驟:1)繪制工作曲線;2)熔敷金屬試樣的制備;3)熔敷金屬試樣中元素含量的測定。本發(fā)明具有分析速度快、操作簡單、測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度高的特點(diǎn),該方法的應(yīng)用拓寬了熒光分析的應(yīng)用范圍,同時(shí)可以避免由于傳統(tǒng)化學(xué)分析產(chǎn)生的廢棄物的排放,減少環(huán)境污染,達(dá)到了節(jié)能減排的目的,具有明顯的社會效益。
聲明:
“測定熔敷金屬化學(xué)成分的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)