本發(fā)明提供一種針尖增強(qiáng)暗場(chǎng)顯微鏡、
電化學(xué)測(cè)試裝置和調(diào)平系統(tǒng)。本發(fā)明的針尖增強(qiáng)暗場(chǎng)顯微鏡的特征在于,所述針尖增強(qiáng)暗場(chǎng)顯微鏡使用光纖探針,所述光纖探針的針尖處修飾有金屬納米顆粒,而且入射光在修飾有金屬納米顆粒的光纖探針內(nèi)部傳輸,針尖和樣品間的距離采用光強(qiáng)控制模式,是一種利用了探針針尖處納米金屬顆粒與金屬基底材料近場(chǎng)耦合作用的局域表面等離激元共振暗場(chǎng)耦合裝置。該顯微鏡可用于研究基底表面的雙電層結(jié)構(gòu)、吸/脫附行為及多相催化等基礎(chǔ)表界面化學(xué)問(wèn)題。另外,基于LSPR距離敏感性原理,針尖增強(qiáng)暗場(chǎng)顯微鏡可應(yīng)用于三探針?biāo)絺鞲衅鲗?duì)納米加工平臺(tái)進(jìn)行自適應(yīng)調(diào)平。
聲明:
“針尖增強(qiáng)暗場(chǎng)顯微鏡、電化學(xué)測(cè)試裝置和調(diào)平系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)