本發(fā)明涉及一種包括標(biāo)識(shí)和驗(yàn)證階段的方法,包括物體的理論標(biāo)識(shí)、物體的光譜分析、確定用作標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)記物、比較關(guān)于在光譜分析期間獲得的所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記物的數(shù)據(jù)和以前存儲(chǔ)的所述特定數(shù)據(jù)、計(jì)算要實(shí)行分析的校正、檢測(cè)標(biāo)記物的有無和強(qiáng)度、確定驗(yàn)證物體的代碼以及根據(jù)情況發(fā)出確認(rèn)信號(hào)或警告信號(hào)。
聲明:
“借助于物體或物質(zhì)的化學(xué)標(biāo)記或示蹤確??煽框?yàn)證的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)