一種用于測量薄膜材料時(shí)溫等效性的裝置。通過紅外光譜儀進(jìn)行光譜分析的薄膜類化學(xué)物質(zhì),需要研究各種聚合物在溫度逐漸升高時(shí)同時(shí)受到拉伸力作用的過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化的情況,現(xiàn)有的紅外光譜儀未配備這種測量裝置。一種用于測量薄膜材料時(shí)溫等效性的裝置。其組成包括:支撐外框(1),所述的支撐外框(1)外形尺寸是與紅外光譜儀樣品倉的可用空間相對應(yīng),所述的支撐外框(1)與左試樣夾具(3)、右試樣夾具(4)固定,所述的左試樣夾具(3)和右試樣夾具(4)與被測薄膜試樣(5)固定,所述的被測薄膜試樣(5)因穿過加熱筒(6)內(nèi)部而被加熱到所需要的溫度,所述的加熱筒(6)與溫度傳感器裝置(2)連接,所述的被測材料加熱部分(5)與所述的加熱筒裝置(2)內(nèi)滑動(dòng)。本實(shí)用新型用于材料科學(xué)。
聲明:
“用于測量薄膜材料時(shí)溫等效性的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)