本發(fā)明提供了一種用于在光譜儀器或者實(shí)驗(yàn)條件發(fā)生變化的情況下維護(hù)光譜校正模型預(yù)測能力的方法,其步驟為:1)首先測得數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣本的光譜數(shù)據(jù);2)運(yùn)用原光譜校正模型從標(biāo)準(zhǔn)樣本的光譜數(shù)據(jù)中預(yù)測其待測組分的濃度(或其他化學(xué)和物理性質(zhì)),并計(jì)算預(yù)測系統(tǒng)偏差;3)在標(biāo)準(zhǔn)樣本的光譜數(shù)據(jù)與校正模型預(yù)測結(jié)果的系統(tǒng)偏差之間建立一預(yù)測結(jié)果糾正模型;4)將預(yù)測結(jié)果糾正模型和原校正模型結(jié)合使用,從而解決光譜校正模型在實(shí)際應(yīng)用中其預(yù)測結(jié)果的準(zhǔn)確度隨光譜儀器或?qū)嶒?yàn)條件的變化而變化的普遍問題。本發(fā)明使用簡單、適用范圍廣泛,實(shí)現(xiàn)了光譜校正模型在同類儀器之間的共享,以及即使在實(shí)驗(yàn)條件發(fā)生變化的情況下長期使用的有效性。
聲明:
“用于維護(hù)復(fù)雜體系光譜校正模型預(yù)測能力的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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