本發(fā)明涉及一種高硅拋光片表面貴金屬離子回收率測試方法,通過采用新型萃取液對高硅拋光片表面貴金屬離子萃取回收,提取貴金屬,萃取液由低濃度的硝酸和鹽酸配制而成,通過化學(xué)反應(yīng)實現(xiàn)萃取液對貴金屬元素的回收;采用新型萃取液,能夠解決原有萃取液對于硅拋光片表面貴金屬回收率低的問題,使鉑Pt、銀Ag、鈀Pd和金Au的回收率達(dá)到了70%以上,提高硅拋光片表面貴金屬測試的穩(wěn)定性,從而滿足對于硅拋光片表面貴金屬離子的測試要求。
聲明:
“高硅拋光片表面貴金屬離子回收率測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)