本發(fā)明提供了一種二氧化鈦表面包覆均勻性和分散性的表征方法。所述均勻性的表征方法包括以下步驟:(1)獲得待測二氧化鈦樣品表面多個(gè)不同測量點(diǎn)的化學(xué)成分;(2)分析并得到所述多個(gè)不同測量點(diǎn)的化學(xué)成分中同一包覆層化學(xué)元素含量的最大值和最小值之間的差值,所述差值越小,二氧化鈦表面包覆均勻性越好。所述分散性的表征方法包括:采用本發(fā)明的二氧化鈦表面包覆均勻性的表征方法,獲得二氧化鈦樣品表面不同測量點(diǎn)的化學(xué)成分中同一包覆層化學(xué)元素含量的最大值和最小值之間的差值,在其他條件相同的情況下,所述差值越小,二氧化鈦的分散性越好。本發(fā)明的方法具有簡單實(shí)用、可操作性強(qiáng)、快速準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“二氧化鈦表面包覆均勻性和分散性的表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)