本發(fā)明公開了一種基于高光譜成像技術(shù)的蘋果表面缺陷快速無損識別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有缺陷蘋果樣本隨機(jī)分配,建立校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集;利用高光譜圖像采集系統(tǒng)采集校正和檢驗(yàn)樣本集蘋果樣本的高光譜圖像;對高光譜圖像進(jìn)行黑白校正,并通過掩膜處理以消除背景,使圖像中僅含蘋果。然后,分別提取蘋果正常區(qū)域以及表面有缺陷區(qū)域的平均光譜,并采用多元散射校正(MSC)對原始光譜進(jìn)行預(yù)處理,得到校正和檢驗(yàn)樣本集光譜數(shù)據(jù)。最后,利用偏最小二乘判別分析方法結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué),建立蘋果表面缺陷的識別模型。本發(fā)明通過高光譜成像技術(shù)可快速、無損地識別出表面有缺陷的蘋果。
聲明:
“基于高光譜成像技術(shù)的蘋果表面缺陷快速無損識別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)