本實(shí)用新型提供了一種參比電極結(jié)構(gòu),其包括:
芯片,具有一框部以及位于框部?jī)?nèi)的一鏤空部,鏤空部作為
電化學(xué)裝置的正極極片與負(fù)極極片之間的離子通道;多個(gè)探針,各探針為鋰參比電極,位于芯片的鏤空部?jī)?nèi)的不同位置;多條引線,各引線絕緣固定于芯片的框部上,各引線的一端電連接對(duì)應(yīng)的探針以使該探針懸臂式位于芯片的鏤空部?jī)?nèi);多個(gè)導(dǎo)電墊,各導(dǎo)電墊絕緣固定在芯片的框部上且電連接對(duì)應(yīng)的引線的另一端,以用于電連接于外部的檢測(cè)裝置。采用所述參比電極結(jié)構(gòu),能夠原位地提供電化學(xué)裝置內(nèi)各個(gè)不同位置的電化學(xué)極化信息,以有助于了解電化學(xué)裝置內(nèi)部的極化分布規(guī)律,從而在設(shè)計(jì)或工藝上對(duì)電化學(xué)裝置進(jìn)行改進(jìn)優(yōu)化,進(jìn)一步提高電化學(xué)裝置的綜合性能。
聲明:
“參比電極結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)