本發(fā)明提供了一種基于深度學(xué)習(xí)核磁共振二維擴(kuò)散排序譜數(shù)據(jù)處理方法,首先,根據(jù)核磁共振二維擴(kuò)散排序譜信號(hào)特征,以相關(guān)數(shù)學(xué)模型生成模擬數(shù)據(jù),構(gòu)建模擬數(shù)據(jù)集;生成網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練所用標(biāo)簽,所述標(biāo)簽為二維矩陣,兩個(gè)維度分別為化學(xué)位移系數(shù)和擴(kuò)散系數(shù);搭建深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型,設(shè)置訓(xùn)練參數(shù);用構(gòu)建的模擬數(shù)據(jù)集進(jìn)行深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型訓(xùn)練;深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型測(cè)試;本發(fā)明提供的方法,無(wú)需待測(cè)樣品分子成分的確切數(shù)量作為先驗(yàn)知識(shí),且訓(xùn)練數(shù)據(jù)均為模擬數(shù)據(jù),無(wú)需大量采集真實(shí)數(shù)據(jù)。
聲明:
“基于深度學(xué)習(xí)核磁共振二維擴(kuò)散排序譜數(shù)據(jù)處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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